邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品: 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
聯(lián)系電話
邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品: 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
聯(lián)系電話
產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
---|---|---|---|---|
SE200BM,SE300BM和SE500BM光譜橢偏儀帶自動監(jiān)測 簡單介紹:橢圓偏振光譜(SE)是一種成熟的光學(xué)技術(shù),用于以非破壞性和非接觸方式表征塊狀材料,薄膜,涂層,表面層和嵌入層。對于常規(guī)和晶圓廠加工質(zhì)量控制,必須有一個自動盒式裝卸機(jī)。為此,我們開發(fā)了一種低成本解決方案,可將晶圓尺寸從2“擴(kuò)展到8"(臺式),將塔式尺寸擴(kuò)展到12“。用戶甚至可以為每個插槽定義配方,從而為整個盒式磁帶測量定義配方。 產(chǎn)品型號:SE200BM,SE300BM和SE500BM 所在地:北京市 更新時間:2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | |||
SE-SOLAR光伏光譜橢偏儀 簡單介紹:橢圓偏振光譜儀SE-Solar專為光伏(PV)應(yīng)用而設(shè)計。它可以配置為覆蓋DUV到NIR范圍,可以使用手動測角儀以5度間隔改變?nèi)肷浣牵部梢耘渲脼樽詣訙y角儀,分辨率為0.001度。基于陣列的檢測設(shè)置可為用戶提供快速測量,每個數(shù)據(jù)只需幾秒鐘。當(dāng)需要映射或?qū)崟r原位測量時,這是所有SE模型中的*選擇。 產(chǎn)品型號:SE-SOLAR 所在地:北京市 更新時間:2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | |||
SE-MSP光譜橢偏儀顯微分光光度計 簡單介紹:對于某些應(yīng)用(例如MEMS或半導(dǎo)體產(chǎn)品晶圓上的功能),希望有一個小的探測點(diǎn)。將顯微分光光度計與橢圓偏振光度計集成在一起后,工具的功能將大大擴(kuò)展。可通過橢圓偏振光度法在超薄膜上工作,并且還具有通過微反射法與橢圓度計和微分光光度計相結(jié)合的*配置的小面積微反射法。 產(chǎn)品型號:SE-MSP 所在地:北京市 更新時間:2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | |||
TFProbe IRSE紅外光譜橢偏儀IRSE 簡單介紹:紅外光譜橢圓儀(IRSE)可以表征材料的結(jié)構(gòu)(厚度,界面,表面粗糙度,污染),光學(xué)(光學(xué)常數(shù)),電(導(dǎo)電性)以及化學(xué)信息。 產(chǎn)品型號:TFProbe IRSE 所在地:北京市 更新時間:2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 | |||
SE200/SE300/SE350/SE500光譜橢偏儀 DUV-VIS-NIR 簡單介紹:光譜橢偏儀可配置從DUV到NIR的波長范圍。DUV范圍可用于測量超薄膜,如納米厚度范圍。比如硅晶片上的原生氧化物,其通常僅為約1至2nm厚。當(dāng)用戶需要測量許多材料的帶隙時,深紫外光譜橢偏儀也是*的。可見或近紅外范圍用于測量相對厚或非常厚的涂層。 產(chǎn)品型號:SE200/SE300/SE350/SE500 所在地:北京市 更新時間:2024-05-17 |
參考價:面議 詢價留言 |